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日本k-axis食品研究機(jī)構(gòu)用面包體積測定儀 該設(shè)備可以快速簡單地測量非定形立體（如面包、糕點(diǎn)等）的體積、尺寸（長、寬、高）以及重量和比重（需選配）。 特別為面包食品行業(yè)設(shè)計，能夠立即在記錄表上顯示“縱橫比”和“彈性”的計算結(jié)果。 該設(shè)備適用于研究開發(fā)和品質(zhì)管理，有助于開辟新的研究和管理領(lǐng)域。 與之前廣泛使用的“菜種置換法”相比，該設(shè)備可以提供高精度和穩(wěn)定性的數(shù)據(jù)，不受個人差異影響。

日本otsuka大塚多樣品納米粒子徑測試儀 nanoSAQLA是一種通過動態(tài)光散射法（DLS法）測量粒徑（粒徑范圍0.6nm~10um）的設(shè)備。 支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測定。 非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測量”的新產(chǎn)品。

otsuka大塚電池材料研發(fā)ZETA電位粒徑測試儀 非常適用于界面化學(xué)、無機(jī)物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究。

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日本otsuka大塚新ZETA電位計兼納米粒度儀 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定) ● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位 ● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位 ● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位 ● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量

日本miclab電流電壓特性測定燃料耐久測試儀 氣體供應(yīng)加濕從加熱到電氣特性評價，通過專用系統(tǒng)軟件進(jìn)行集中管理、自動測試。

日本進(jìn)口miclab燃料電池發(fā)電測試儀評估設(shè)備 氣體供應(yīng)加濕從加熱到電氣特性評價，通過專用系統(tǒng)軟件進(jìn)行集中管理、自動測試。

日本seikou-giken厚度深度測量傳感器工業(yè)用 WLI2000系列 厚度測量傳感器WLI2000系列 該傳感器的特點(diǎn)是利用光干涉非接觸式測量工件的厚度。 它是應(yīng)用醫(yī)院眼底檢查中使用的 OCT 檢查技術(shù)而開發(fā)的工業(yè)測量傳感器。